1/1/2014 - 31/12/2017
UN ABORDAJE EXPERIMENTAL Y DE PRIMEROS PRINCIPIOS, UTILIZANDO PRINCIPALMENTE TéCNICAS HIPERFINAS COMO SER LA ESPECTROSCOPíA TDPAC, EL MéTODO AB INITIO FP-APW+LO Y TéCNICAS COMPLEMENTARIAS (COMO DIFRACCIóN DE RAYOS X, EXAFS, XANES, MAGNETOMéTRICAS, ETC.), SERá APLICADO AL ESTUDIO DE PROPIEDADES ESTRUCTURALES, ELECTRóNICAS Y MAGNéTICAS DE SISTEMAS DE POTENCIAL INTERéS TECNOLóGICO, PRINCIPALMENTE óXIDOS SEMICONDUCTORES PUROS Y DOPADOS, SEMICONDUCTORES MAGNéTICOS DILUIDOS (DILUTED MAGNETIC SEMICONDUCTORS-DMS), SISTEMAS DE BAJA DIMENSIONALIDAD E INTERMETáLICOS. DEBIDO A LA FUERTE DEPENDENCIA DE DIFERENTES PARáMETROS HIPERFINOS (GRADIENTE DE CAMPO ELéCTRICO, CAMPOS HIPERFINOS, ETC.) CON LA SIMETRíA Y MAGNITUD DE LA DENSIDAD ELECTRóNICA DE CARGA RHO(R) EN EL ENTORNO SUBNANOSCóPICO DEL SITIO DE IMPUREZA O DE UN áTOMO NATIVO, SE UTILIZARá A ESTOS OBSERVABLES (DETERMINADOS EXPERIMENTALMENTE CON GRAN PRECISIóN) COMO HERRAMIENTA EFICAZ PARA EL ESTUDIO DE DIVERSAS PROPIEDADES DE LOS SISTEMAS EN ESTUDIO, ABORDAJE DEMOSTRADO EXITOSO EN LOS úLTIMOS AñOS [PRL 89, 55503 (2002);PRB 79, 115213 (2009)].